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艾丁陞實業有限公司 - 您值得信賴的紅外線熱像儀夥伴
Anton Paar Litesizer DIF 500 雷射繞射粒徑分析儀
Kalliope 軟體簡化了粒徑測量，不需要額外的教育訓練 – 僅需三次點擊就能開始測量。Quick-Click 系統允許輕鬆切換分散單位，最小化錯誤。液體和乾燥分散的安全特性確保操作輕鬆且安全。
堅固的金屬外殼和獨立的光學平台確保在各種環境下的可靠性：從惡劣環境到高科技實驗室。
在品質上，我們處於領先地位
Litesizer DIF 因其高品質的製造而成為顆粒分析的完美工具。它具有高檔硬體，使儀器能夠收集優質的原始數據。這款雷射繞射粒徑分析儀讓使用者能夠測量廣泛的樣品，涵蓋 0.01 µm 至 3,500 µm 的粒徑，只需一台分析儀即可完成所有操作，無需額外投資。
Kalliope：粒徑的標準軟體
使用 Kalliope，使用者立即知道如何開始，透過單頁工作流程（設定參數、獲取和處理結果）。此外，QC 模式藉由自定義使用者管理和鎖定精細設定提供一致可靠的測量結果。儀器在 QC 模式下會簡單地回饋您的產品是否在您定義的範圍內。這意味著只需三次點擊就能得到結果，並且對新使用者的訓練需求減少。此外亦提供製藥選項，其具備資料安全功能、使用者管理、稽核追蹤功能，使 Kalliope 符合美國 FDA 的 21 CFR Part 11 (聯邦法規 21 章第 11 條) 規定。
有效的分散，最大安全
Litesizer DIF 的快速點擊功能只需一個動作即可連接分散單元 – 不需煩惱於電線、管道或管子。當涉及到添加樣本時，遮蔽水平指示器允許您在添加樣品的同時監控樣品量，確保您從一開始就獲得正確的數量。我們的分散單元在設計時考慮了安全性：乾式分散單元配備了吸入檢查裝置和內建的防塵蓋，以最小化粉末擴散的風險。此外，液體流動分散單元在超音波處理前會自動檢查液體是否充足，以防止過熱。
任何環境下的粒徑測量
安東帕的 Litesizer DIF 是重工業的標準。內外部均採用高品質零件製成。堅固的金屬外殼包裹著耐用的光學元件。Litesizer DIF 被設計成能夠承受惡劣環境：無灰塵或粉末可以滲透到儀器的光學平台上，且儀器內部與生產現場可能的直接震動是隔離的。所有這些都意味著您可以節省保養和維修成本。
較少的投資，節省了工作台空間 – 全方位的兼容性
安東帕的 Litesizer DIA 和 Litesizer DIF 儀器之間的分散單元兼容性降低了投資成本和實驗室使用空間。此外，所有 Litesizer 儀器都可以使用安裝了 Kalliope 軟體的單一電腦來操作。
Anton Paar Litesizer DIF 500
| 產品型號 | DIF 500 |
|---|---|
| 測量原理 | 雷射繞射（米氏和Fraunhofer散射） |
| 測量範圍 | 0.01 μm – 3,500 μm |
| 尺寸等級 | 144（使用者可調） |
| 準確度 | 優於 ±0.5% 的偏差 + |
| 可重複性 | 優於 ±0.5% 的偏差 + |
| 再現性 | 優於 ±1% 的偏差 + |
| 可能的測量持續時間 | <10 秒 |
| 資料獲取率 | 16 kHz |
| 光源 1 | |
| 類型 | 光纖耦合雷射二極體 |
| 光學排列 | 逆傅立葉 |
| 波長 | 830 nm，紅外線 |
| 功率 | 10 mW |
| 雷射等級 | 1 級 (IEC60825-1) |
| 光源 2 | |
| 類型 | 雷射二極體 |
| 光學排列 | 相對於紅外線雷射傾斜 |
| 波長 | 450 nm，藍色 |
| 功率 | 25 mW |
| 雷射等級 | 1 級 (IEC60825-1) |
| 偵測器 | |
| 類型 | 用於側向和反向散射的對數間隔光電二極體陣列和單一二極體 |
| 角度範圍 | 0.01° 至 170° |
| 焦距 | 300 mm |
| 對準 | 自動 |