產品與服務

Litesizer DLS 透過自動角度選擇來提供一流的粒徑測量，以防止錯誤，而 MAPS 技術可產生盡可能高的峰值解析度。連續穿透度監測可偵測測量過程中的沉澱和結塊，進而提高測量可靠性。

cmPALS 和 Omega Cuvette 是我們系統的獨特之處，它透過解決老化效應和最小化電梯度來提高 zeta 電位的準確性和可重複性。

Litesizer DLS 還提供螢光和偏振濾光片，不僅用於粒徑測量，還用於 MAPS 三角度和單角度模式下的顆粒濃度測量。

Anton Paar Litesizer DIF 500 提供從 10 nm 到 3.5 mm 的先進粒徑測量，依據近 60 年的雷射繞射專業知識。這款雷射繞射粒徑分析儀擁有一流的光學設定，具有強大的 10 mW 和 25 mW 雷射以及市場上最寬的檢測繞射角範圍（0.01°-170°）。

利用Anton Paar Litesizer DIA 影像分析儀 DIA 系列，可以透過分析顆粒的直接影像，輕鬆可靠地分析顆粒的大小和形狀。只需一步，即可在使用分散液、壓縮空氣或自由落體三個模組之間快速切換，以實現樣品的優異分散。仰賴自動化功能，例如調整進料速度和沖洗液體，只需最少的培訓即可著手進行測量。

利用Anton Paar PSA 1190系列的雷射繞射科技，您可以測定從奈米級至毫米級範圍內的濕式分散和乾粉的粒徑和粒徑分佈。材料粒徑和粒徑分佈的知識對於產品開發和品質控制至關重要，因為這兩個參數都會影響可加工性以及最終產品的特性。
這個系列的儀器包含了 50 多年的經驗。1967 年，世界首款雷射繞射粒徑分析儀：第一部 PSA 研發完成。

Anton Paar Litesizer DLS 100系列是按下按鈕即分析奈米和微粒特性的理想選擇。借助這些動態光散射儀器，您可以在較寬的濃度範圍內測定分散體中的顆粒以及溶液中的肽或大分子，從而縮短樣品製備時間。