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艾丁陞實業有限公司 - 您值得信賴的紅外線熱像儀夥伴
用於雷射激發熱像技術的實驗室 NDT 系統 – LTvis
雷射激發熱像技術是一種非接觸式、非破壞性的檢測方法，非常適用於焊縫、薄層和材料接頭的特性分析。該方法特別適用於需要時間與空間上都非常精確且非接觸式加熱的應用。能量可以脈衝式或週期性施加。由於採用傅立葉分析，此技術非常堅固耐用，即使在惡劣的環境下也能正常工作。LTvis 可與 edevis 的所有其他激發源和軟體模組擴展搭配使用。
雷射激發熱像技術原理
雷射熱像技術可應用於脈衝相位熱像和鎖相熱像兩種模式。其中，光學鎖相熱像 (LIT) 方法基於熱流分析，也常被稱為熱流熱像技術。
該技術透過雷射光加熱被檢測物體的表面。由此產生的熱流在進入材料時，會因為熱障礙（如孔隙、分層或材料厚度變化）而改變。熱量累積會在表面形成 “熱點”，這些熱點由紅外線攝影機成像捕捉。
由於採用傅立葉分析，此方法的靈敏度非常高。評估不僅在一張圖像上進行，而是在整個圖像序列上進行。透過傅立葉變換，從中計算出相位圖和振幅圖。在相位圖中，因不同發射係數或不均勻激發所造成的干擾效應會顯著減少。這使得對界面狀態和/或材料厚度或塗層厚度的判斷成為可能。
應用領域
- 焊縫、釬焊縫檢測
- 分層分析 (雜質、夾雜物等)
- 層厚測量
- 膠合接頭檢測
LTvis 軟體
DisplayImg 軟體模組 LTvis
LTvis 軟體模組可實現對 edevis 雷射器的完整控制與啟動。雷射器的安全方面與參數設定皆由軟體控制。它支援 edevis 的 FL 型和 NT 型雷射器。重要的參數如雷射功率、脈衝長度和延遲或調變頻率，以及評估頻率，皆可預設。
該軟體透過序列埠對 edevis 雷射器進行參數設定，並在測量期間透過 edevis 訊號產生器 (ESG) 的類比介面控制激發功率。所有參數和結果值都會作為中繼資料，與測量結果圖像檔案一同儲存。
雷射防護
edevis 雷射安全艙能有效阻擋雷射輻射，確保在無需其他防護設備（如雷射防護眼鏡）的情況下安全操作。內建的安全 PLC 和氣動升降門的聯鎖設計，提供最高的作業安全性。
同時，整合式光學平台便於專業的測試設置。可選購的「X95」和「Microbench」附加模組，則能讓光路中的其他光學組件高效配置。
此外，選配的監控攝影機可提供測量過程的即時監控。
技術規格
| 燈具控制器 | LTvis 100 NT | LTvis 250 NT | LTvis 50 FL | LTvis 300 FL |
|---|---|---|---|---|
| 功率輸出 Power output | 100 W | 250 W | 50 W | 300 W |
| 功率輸出 Power supply | 230 V / 16 A | 230 V / 16 A | 230 V / 16 A | 230 V / 16 A |
| 制冷系統 Cooling | 風冷 / 水冷 | 水冷 | 風冷 / 水冷 | 風冷 / 水冷 |
| 波長 Wavelength | 938 nm | 938 nm | 938 nm | 938 nm |
| 外殼 Housing | 19 英寸 / 4U | 19 英寸 / 3U | 19 英寸 / 3U | 19 英寸 / 4U |