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雷射掃描熱像技術是一種非接觸、非破壞性的檢測方法，非常適用於各種材料，特別是塑膠和陶瓷中的裂紋檢測。此方法以影像為基礎，即使在惡劣的環境條件下也能良好運作。LTscan 可與所有其他 edevis 激發源和軟體模組進行擴展。

感應熱像技術（ITvis）是一種非接觸式、非破壞性檢測方法，非常適合金屬結構以及金屬-聚合物複合材料的非接觸式成像特性分析。當需要非接觸式、短時間測量技術時（例如用於裂紋檢測），此方法尤其適用。感應熱像技術非常堅固耐用，即使在惡劣的環境下也能正常工作。它可用於生產和維護環節。與滲透探傷或磁粉探傷不同，受測物件完全無需接觸且不使用化學添加劑。

雷射激發熱像技術是一種非接觸式、非破壞性的檢測方法，非常適用於焊縫、薄層和材料接頭的特性分析。該方法特別適用於需要時間與空間上都非常精確且非接觸式加熱的應用。能量可以脈衝式或週期性施加。由於採用傅立葉分析，此技術非常堅固耐用，即使在惡劣的環境下也能正常工作。LTvis 可與 edevis 的所有其他激發源和軟體模組擴展搭配使用。

UTvis 超音波激發熱像技術是一種非破壞性檢測方法，非常適用於非金屬與金屬結構的特性分析。該方法特別適用於檢測那些可透過引入聲波而被激發的缺陷，主要包括裂紋和黏合缺陷。此方法可用於生產和實驗室環境。藉助自動搬運機，這種檢測方法可以輕鬆整合到量產測試中。UTvis 可與 edevis 的所有其他激發源和軟體模組擴展搭配使用。

脈衝熱像技術是一種非接觸式檢測方法，非常適用於薄層、塗層/漆層以及分層的非接觸式特性分析。其極短的檢測時間和高偵測靈敏度使脈衝熱像技術成為非破壞性材料檢測中極其強大的工具。

脈衝相位評估技術能夠定量測定材料特性，例如厚度、孔隙率或熱導率。此外，它還能抑制諸如表面特性差異或加熱不均勻等干擾。檢測結果的判讀和記錄非常簡單。

PTvis 系統基於大功率閃光燈設計，採用模組化架構，可透過其他類型的激發源（UTvis、ITvis、OTvis 等）進行擴展。