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艾丁陞實業有限公司 - 您值得信賴的紅外線熱像儀夥伴
實驗室雷射掃描熱像系統 – LTscan
雷射掃描熱像技術是一種非接觸、非破壞性的檢測方法，非常適用於各種材料，特別是塑膠和陶瓷中的裂紋檢測。此方法以影像為基礎，即使在惡劣的環境條件下也能良好運作。LTscan 可與所有其他 edevis 激發源和軟體模組進行擴展。
雷射掃描熱像原理
雷射掃描熱像技術—也稱為飛點熱像技術—是基於激發雷射與組件之間的相對運動。
一個雷射點會加熱被檢測物體的表面。從該點發出的橫向熱流會被熱界面（如裂紋）阻擋。由於熱量積聚，紅外線攝影機可以非接觸式地檢測到裂紋。為了檢查整個組件表面，光點會透過振鏡掃描儀在表面上移動。對於大面積檢測，可以透過在一個方向上快速週期性掃描來生成一條雷射線，然後將其在正交方向上緩慢地移動過組件。根據組件的幾何形狀，可以掃描單個點或輪廓。
作為振鏡掃描儀的替代方案，雷射線也可以透過光學元件生成，並且相對運動可以透過旋轉或平移軸來產生。振鏡掃描儀和軸的組合也已在工業上實現。
雷射掃描熱像原理
LTvis 軟體
DisplayImg 軟體模組 LTscan
LTscan 軟體模組能夠控制 edevis 雷射和振鏡掃描儀。雷射和掃描儀的安全方面及參數設定都由該軟體控制。它支援 FL 和 NT 型號的 edevis 雷射。這使得可以定義重要的參數，例如雷射功率、掃描速度、掃描場大小、掃描方向和掃描模式。可以定義各種掃描模式，如點、輪廓和區域。
該軟體透過序列埠對 edevis 雷射進行參數設定，並在測量期間控制掃描儀軸的定位。掃描控制器卡透過其數位介面控制雷射的激發功率。所有參數和結果值都作為中繼資料與測量結果圖像文件一起保存。
雷射防護
edevis 雷射安全艙能有效阻擋雷射輻射，確保在無需其他防護設備（如雷射防護眼鏡）的情況下安全操作。內建的安全 PLC 和氣動升降門的聯鎖設計，提供最高的作業安全性。
同時，整合式光學平台便於專業的測試設置。可選購的「X95」和「Microbench」附加模組，則能讓光路中的其他光學組件高效配置。
此外，選配的監控攝影機可提供測量過程的即時監控。
技術規格
| 雷射 | LTscan 100 NT | LTvis 50 FL |
|---|---|---|
| 功率輸出 Power output | 100 W | 50 W |
| 波長 Wavelength | 938 nm | 1070 nm |
| 光纖轉接器 Fibre adapter | F-SMA | - |
| 工作距離 Working distance | 150 mm | 400 mm |
| 掃描面積 Scanning area | 50 x 50 mm2 | 130 x 130 mm2 |
| 制冷系統 Cooling | 風冷 / 水冷 | 風冷 / 水冷 |
| 功率輸出 Power supply | 230 V / 16 A | 230 V / 16 A |
| 外殼 Housing | 19 英寸 / 4U | 19 英寸 / 3U |