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艾丁陞實業有限公司 - 您值得信賴的紅外線熱像儀夥伴
主動式熱像技術與可調整的雷射激發 – LTvis
LTvis 的檢測原理
LTvis 是一種基於主動式熱像檢測的技術。它利用精準的雷射光束對元件進行局部加熱，可根據需求選擇點、線或面狀加熱。材料內部的缺陷會干擾其熱流傳導，這些干擾會透過紅外線攝影機顯現出來，並由 edevis 軟體自動進行分析。
LTvis 的典型檢測流程
雷射光束熱激發二極體或光纖雷射會在元件表面產生定向的熱脈衝。雷射的類型會根據材料特性和檢測要求進行選擇。
材料內部的熱流 熱流起初會均勻擴散，直到被裂縫、分層或孔隙等缺陷中斷。這些中斷會在表面造成溫度變化，並可被精確偵測。
紅外線攝影機偵測 高解析度紅外線攝影機可即時偵測這些異常。即使是最小的缺陷也能清楚顯現並被記錄下來。
軟體輔助分析影像分析會透過 DisplayImg 軟體自動進行，包含相位影像可視化、缺陷偵測和報告生成。
規格
二極體雷射
波長：約 940 nm
功率：最高 2000 W
光束輪廓：均勻（平頂型，top-hat）
適用範圍：適合大面積加熱、研磨燒傷、塗層厚度和淺層缺陷檢測。
光纖雷射
波長：約 1064 nm
功率：最高 500 W
光束輪廓：高斯型（聚焦，Gaussian）
適用範圍：適合微小裂紋、深層缺陷和高解析度檢測。
1D vs. 2D/3D 熱流
一維熱流（二極體雷射）：屬於平面式的垂直熱傳導，過程中沒有移動。
二維／三維熱流（光纖雷射）：屬於點狀或線狀的激發，熱傳導會向側面擴散，並搭配掃描儀操作。
模組化系統
LTvis 系統由以下部分組成：
LTvis 激發源與光學元件：可選擇二極體或光纖雷射。
雷射控制軟體模組
雷射光學/掃描儀（可選）
雷射安全艙（可選）
所需組件
配備中波紅外線（MWIR）偵測器的高速紅外線攝影機
ESG 訊號產生器
edevis 軟體 DisplayImg
測試台/處理系統（可選，用於自動化測試）
這套系統可用於實驗室測試，也能整合到自動化的產線設置中。
應用範例
- 焊縫與焊點檢測
- 裂紋、分層與夾雜物檢測
- 塗層厚度與硬度測試
- 研磨燒傷檢測
- 碳纖維強化塑膠 (CFRP)、鋁、銅和鋼的測試
- 複雜幾何形狀的缺陷檢測
LTvis 優點
可依據雷射光源選擇，進行靈活配置
適用於多種材料和缺陷類型。
具有高深度解析度和熱敏度。
可自動化並整合至生產線。
採用 edevis 經證實的平台與統一軟體架構。
評估軟體
DisplayImg Professional
雷射裝置與攝影機控制：全面掌控雷射單元和攝影機。
相位影像分析與傅立葉評估：進行專業的影像分析，包括相位影像分析和傅立葉評估。
專案管理、API 整合：具備專案管理功能，並支援 API 整合。
相容於所有 edevis 激發類型：可與 edevis 的所有激發方式相容。
DisplayImg Automation
彈性模組化系統：具備高度彈性，可根據不同需求進行配置。
主動與被動熱像檢測：同時支援主動式與被動式熱像檢測。
自動化數據擷取：能夠自動化擷取檢測數據。
OPC 連接與 SQL 匯出：可透過 OPC 進行連接，並將數據匯出至 SQL 資料庫。
條碼/DMC 掃描器：支援條碼和 DMC (Data Matrix Code) 掃描器，便於產品追蹤。
