PTvis 系統採用主動脈衝熱像技術原理:閃光燈發出的短暫、強烈光脈衝會在元件表面產生溫度上升。材料中的缺陷會影響由此產生的熱流——這些熱偏差會被高速紅外線熱像儀捕捉並在專業軟體的支援下進行分析,從而使缺陷可見。
閃光加熱 (Excitation by flash light) 高性能閃光燈會在毫秒內,於表面產生短暫且強烈的熱脈衝。
材料內部熱流 (Heat flow within the material) 熱量均勻傳播,直到被材料缺陷、分層或塗層厚度變化所阻礙。
紅外線偵測 (Detection using an infrared camera) 快速、高解析度的紅外線熱像儀即時捕捉熱響應。
軟體輔助分析 (Software-assisted analysis) 評估由 edevis 的 DisplayImg 軟體自動執行。傅立葉分析會產生相位和振幅圖像,即使是細微的差異也能揭示——包括檢測報告、量化和視覺化。
塗層和油漆厚度量測
檢測塗層下的腐蝕(例如:絲狀腐蝕)
檢測 CFRP(碳纖維強化塑膠)和其他纖維強化複合材料
嵌件的黏合檢測
偵測分層、孔隙、衝擊損傷
黏合接頭的檢測
非破壞性表面檢測
特別適用於金屬和複合材料中的裂紋檢測
非接觸式、缺陷選擇性的檢測方法
高穿透深度結合高解析度
相位分析可減少表面人為產生的假象
即使在粗糙表面或複雜幾何形狀上也能適用
可自動化並適合整合到生產線中
PTvis 系統組成:
PTvis 閃光產生器
閃光燈(一個或多個)
設備控制軟體模組
此外,還需要:
紅外線熱像儀(配備 MWIR 或 LWIR 偵測器)
ESG 訊號產生器
edevis DisplayImg 軟體
測試台/處理系統(選配,用於自動化測試)
該系統可用於實驗室測試和自動化生產線設置。
雷射裝置與攝影機控制:全面掌控雷射單元和攝影機。
相位影像分析與傅立葉評估:進行專業的影像分析,包括相位影像分析和傅立葉評估。
專案管理、API 整合:具備專案管理功能,並支援 API 整合。
相容於所有 edevis 激發類型:可與 edevis 的所有激發方式相容。
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我們專注於紅外線熱像、非破壞檢測(NDT)、電源測試與精密量測技術,代理多項國際頂尖品牌,應用涵蓋研發、品質控管、學術研究與自動化產線等多元領域。
授權代理品牌包括:
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