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Optris PI 05M - 用於超高溫材料的精密超短波紅外線熱像儀

Optris PI 05M – 用於超高溫材料的精密超短波紅外線熱像儀

Optris PI 05M 是一款超短波紅外線熱像儀,專為極高溫目標的精確非接觸式溫度量測而設計。其運作於短波紅外線範圍(05M:0.50 – 0.54 μm),量測溫度範圍從 900°C 至 2450°C,專門用於熔融金屬以及涉及近紅外線(NIR)與二氧化碳(CO2)雷射之增材製造(3D 列印)程序的精準溫度分析。
Optris PI 05M - 用於超高溫材料的精密超短波紅外線熱像儀

關鍵特點

  • 高動態範圍CMOS偵測器,解析度高達 764  x  480像素
  • 光譜靈敏度約為 0.5 µm——非常適合熔融金屬和雷射工藝
  • 測量範圍寬廣,從 900°C 到 2450°C,無子範圍
  • 快速處理最高幀速率可達 1 kHz。
  • 類比和數位輸出,響應時間為 1 毫秒

產品描述與功能深度解析

I. 超短波紅外線熱像技術|高溫金屬與增材製造應用

Optris PI 05M 是一款超短波長紅外線熱像儀,專為高溫目標的非接觸式溫度測量而設計。其工作波長位於短波紅外線波段(0.50–0.54 μm),特別適用於熔融金屬等高溫材料的精確溫度分析,也可應用於使用近紅外線 (NIR) 與二氧化碳 (CO2) 雷射的增材製造流程。PI 05M 具備廣泛的溫度測量範圍與高精度量測能力,能夠滿足各種嚴苛的工業應用需求。

 

II. 短波光譜優勢|提升金屬與反射材料測量可靠性

PI 05M 熱像儀配備 27° × 17° 視場角鏡頭,可在工業環境中實現精細的熱成像與精確溫度分析,適合監測高溫材料與複雜的增材製造製程。一般而言,非反射材料通常具有較穩定的發射率,尤其在長波光譜範圍內;然而金屬與反射材料在長波紅外線波段的發射率通常較低,容易降低測量結果的可靠性。PI 05M 所使用的短波波段對應於多數金屬較高的發射率,因此可提升遠距離溫度測量的穩定度與準確性。依據普朗克輻射定律,短波波段能釋放更多紅外線輻射,能有效降低發射率變化對測量重複性的影響。因此,對於高溫反射材料的精確測量,建議採用超短波紅外線熱像儀。PI 05M 在德國製造,符合工業標準,相較於長波紅外線熱像儀具有更高的精度、準確度與重複性。

 

III. 高溫量測與高速影像擷取|適用快速製程監測

PI 05M 的光譜頻寬為 0.50–0.54 μm,連續測量溫度範圍為 900°C 至 2450°C,適用於熔融金屬、高溫材料及多數近紅外線與 CO2 雷射加工應用。該熱像儀提供多種幀速率與子影像模式,可依不同應用需求進行調整。在 764 × 480 像素解析度下,其幀速率為 32 Hz,可提供高品質熱影像;在 382 × 288 像素模式下,幀速率可提升至 80 Hz,適合監測快速移動的物體或動態製程。對於溫度快速變化的應用情境,系統亦可在 72 × 56 像素解析度下以 1 kHz 的幀速率運作,以精確捕捉瞬時熱變化。

 

IV. 線掃描與系統整合能力|適用嚴苛工業環境

PI 05M 還提供 764 × 8 像素、1 kHz 取樣率的子影像模式,專為線掃描應用而設計,可沿著連續線進行精確的溫度監測,支援多種工業量測與成像任務。此熱像儀透過 USB 連接電腦,並相容於 PIX Connect 軟體,該軟體提供線掃描、影像合併及熱影像處理等功能,並可進行完整的溫度資料擷取。PIX Connect 軟體免費提供,亦為需要客製化整合的系統整合商提供開發套件。PI 05M 同時可搭配多種專為惡劣環境設計的配件,例如水冷外殼可將熱像儀的工作溫度範圍擴展至 315°C,而空氣吹掃裝置則可在多塵環境中保持鏡頭清潔。此外,機械安裝組件、電氣介面與連接電纜等配件可協助將 PI 05M 無縫整合至既有工業系統,確保熱成像應用的穩定與可靠運作。

Optris PI 05M 規格

產品型號 Model Number PI 05M 41° x 25° PI 05M 13° x 8° PI 05M 27° x 17°
感測器 Detector
光學解析度 Optical resolution 764x480像素 764x480像素 764x480像素
像素間距 Pixel pitch 15 µm 15 µm 15 µm
感測器 Detector CMOS CMOS CMOS
光譜範圍 Spectral Range 500 - 540 nm 500 - 540 nm 500 - 540 nm
光學濾光片 Optical Filter
幀率 Frame rate 子幀模式:80 Hz(可切換至 27 Hz)
快速子幀模式:1 kHz
線掃描:1 kHz
子幀模式:80 Hz(可切換至 27 Hz)
快速子幀模式:1 kHz
線掃描:1 kHz
子幀模式:80 Hz(可切換至 27 Hz)
快速子幀模式:1 kHz
線掃描:1 kHz
光學 Optical
視野 Field of View 41° x 25° 13° x 8° 27° x 17°
焦距 Focal length [mm] 16.0 50.0 25.0
F值/光圈值 F Number 2.0 2.8 1.8
光學分辨率 Distance to Spot ratio (D:S) 255 : 1 833 : 1 561 : 1
目標最小距離 Minimum Distance to target 100 mm 500 mm 100 mm
可互換光學元件 Interchangeable optics 可更換 可更換 可更換
測量 Measurement
目標溫度範圍 Object Measurement Range 900 – 2450 °C 900 – 2450 °C 900 – 2450 °C
精度 Accuracy 對於溫度低於 2000 °C 的物體:
27/32/80 Hz 時讀數的 ±1% / 1 kHz 時讀數的 ±1.5%
對於溫度高於 2000 °C 的物體:
27/32/80 Hz 時讀數的 ±2% / 1 kHz 時讀數的 ±2.5%
熱靈敏度 NETD <2 K (1400 °C/
27 Hz 至 1 kHz)
<2 K (1400 °C/
27 Hz 至 1 kHz)
<2 K (1400 °C/
27 Hz 至 1 kHz)
最小可偵測光斑尺寸(IFOV):1 像素
Smallest detectable Spot Size IFOV: 1 pixel
0.1 mm 0.2 mm 0.1 mm
最小可測量光斑尺寸 Smallest measurable Spot Size MFOV 0.4 mm 0.8 mm 0.4 mm
測量視場 MFOV Measurement Field of View 4x4 像素 4x4 像素 4x4 像素
熱機時間 Warm-up time 10 min 10 min 10 min
發射率/透射率/反射率 Emissivity /Transmissivity/ Reflectivity 可調整範圍 :
0.100 ~ 1.100
可調整範圍 :
0.100 ~ 1.100
可調整範圍 :
0.100 ~ 1.100

Optris Short Wavelength IR Cameras 短波紅外線熱像儀系列成員

Optris PI 05M - 用於超高溫材料的精密超短波紅外線熱像儀
PI 08M
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PI 1M
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