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Optris PI 640i LT - 高精度高解析度VGA紅外線熱像儀

Optris PI 640i LT – 高精度高解析度VGA紅外線熱像儀

Optris PI 640i 是一款高性能紅外線熱像儀,旨在滿足苛刻的研究人員與製程工程師的需求。Optris PI 640i 熱像儀體積精巧、功能強大且精確,具備 VGA 解析度,可提供卓越的紅外線影像品質。憑藉 640 x 480 像素的光學解析度,PI 640i 能夠提供極為清晰的放射測量影像與影片。
Optris PI 640i LT - 高精度高解析度VGA紅外線熱像儀

關鍵特點

  • 高性能非製冷USB熱像儀
  • 光譜範圍:8 µm 至 14 µm
  • 640 x 480 的高解析度
  • 幀率:32 Hz,子影像最高可達 125 Hz

產品描述與功能深度解析

I. 高解析度紅外線熱成像設計|適用科研與製程工程應用

PI 640i 是一款高性能紅外線熱像儀,專為科學研究與製程工程應用而設計,支援遠端紅外線測溫並提供高解析度 VGA 成像能力。在標準配置下,該設備可在 -20°C 至 900°C 的溫度範圍內進行精確量測,而透過高溫校準則可將測量範圍擴展至 1500°C。PI 640i 採用高解析度 640 × 480 的非冷卻微測輻射熱計偵測器,熱靈敏度可達 25 mK,能夠偵測極細微的溫度變化。此系列產品具備卓越的輻射測量能力與高品質影像,是 Optris 精密型紅外線熱像儀的重要特徵。

 

II. 非冷卻微測輻射熱計技術|高穩定度熱影像量測

Optris 紅外線熱像儀採用非冷卻偵測器技術,具有低功耗、長壽命與緊湊設計的優勢,有效降低整體使用成本。PI 640i 採用 17 µm 的最佳像素間距設計,適用於長波紅外線輻射,並搭配低熱噪聲特性,使其測量視場(MFOV)相當大,目標只需覆蓋 3 × 3 個像素即可完成精確量測。與需要更大像素覆蓋範圍的紅外線相機相比,該設計可在更小目標條件下進行可靠測量。此外,PI 系列前視紅外線成像系統針對固定應用進行最佳化設計,無需機械移動反射鏡即可生成完整的紅外熱影像,相較於傳統線掃描系統能提供更高的穩定性與可靠性。

 

III. PIX Connect 專業軟體平台|完整熱影像分析與資料記錄

PI 640i 需搭配 Optris PIX Connect 軟體使用,該軟體可免費下載並持續提供更新。PIX Connect 提供完整的熱影像分析工具,包括熱點與冷點識別、直方圖分析、溫度分佈顯示以及影像相減等功能,使研究人員與製程工程師能夠從熱影像中任意像素提取完全校準的溫度數據並進行記錄。系統可從即時或已錄製的熱成像影片中提取溫度與時間的變化資料,並能從使用者定義區域計算最高溫、最低溫與平均溫度,同時支援複雜的警報訊號分析。儲存的熱成像影片也可逐幀回放,方便在溫度變化期間擷取輻射影像與觸發快照。此外,PIX Connect 亦支援以片材為導向的工業溫度監測流程,例如玻璃生產線、塑膠熱成型、傳送帶與牆板等連續製程的溫度監控,並透過線掃描功能將二維熱影像轉換為單線連續溫度分佈圖。

 

IV. 工業級耐用設計與多元介面|適用嚴苛製程環境

PI 640i 具有緊湊且靈活的熱像儀頭部設計,可應用於從實驗室到密閉工廠等多種環境。設備具備 IP67(NEMA 4)防護等級,可在 0°C 至 70°C 的環境溫度下運作而無需額外外殼。多種配件可支援在極端條件下進行資料採集與溫度控制,例如水冷式外殼可在高達 315°C 的環境溫度下保護相機並與工業製程介面(IPI)相容;空氣淨化配件可防止灰塵與蒸氣附著於鏡頭表面,以保持光學清晰度;具備整合加熱功能的戶外外殼則可確保設備在室外環境中穩定運行。透過工業製程介面附件,系統可將指定區域的溫度或警報訊號轉換為電流或繼電器輸出並傳送至外部控制系統。PI 640i 在德國設計與製造,並提供完整校準證書,以滿足工業測量與可追溯性文件的要求。

Optris PI 640i LT 規格

產品型號 Model Number PI 640i LT
120° x 100°
PI 640i LT
15° x 11°
PI 640i LT
90° x 64°
PI 640i LT
60° x 45°
PI 640i LT
33° x 25°
感測器 Detector
光學解析度 Optical resolution 640x480像素 640x480像素 640x480像素 640x480像素 640x480像素
像素間距 Pixel pitch 17 µm 17 µm 17 µm 17 µm 17 µm
感測器 Detector 非制冷探測器 非制冷探測器 非制冷探測器 非制冷探測器 非制冷探測器
光譜範圍 Spectral Range 8 - 14 µm 8 - 14 µm 8 - 14 µm 8 - 14 µm 8 - 14 µm
光學濾光片 Optical Filter 可選:
CO2 10.6 µm
可選:
CO2 10.6 µm
可選:
CO2 10.6 µm
可選:
CO2 10.6 µm
可選:
CO2 10.6 µm
幀率 Frame rate 全解析度:32 Hz
線掃描:125 Hz
全解析度:32 Hz
線掃描:125 Hz
全解析度:32 Hz
線掃描:125 Hz
全解析度:32 Hz
線掃描:125 Hz
全解析度:32 Hz
線掃描:125 Hz
光學 Optical
視野 Field of View 120° x 100° 15° x 11° 90° x 64° 60° x 45° 33° x 25°
焦距 Focal length [mm] 3.5 41.5 7.7 10.5 18.7
F值/光圈值 F Number 1.0 1.0 0.8 0.8 0.8
光學分辨率 Distance to Spot ratio (D:S) 61 : 1 800 : 1 105 : 1 181 : 1 354 : 1
目標最小距離 Minimum Distance to target 200 mm 500 mm 200 mm 200 mm 300 mm
可互換光學元件 Interchangeable optics 可更換 可更換 可更換 可更換 可更換
測量 Measurement
目標溫度範圍 Object Measurement Range -20 – 1500 °C
-20 – 900 °C
-20 – 900 °C
-20 – 1500 °C
-20 – 900 °C
-20 – 1500 °C
-20 – 900 °C
-20 – 1500 °C
-20 – 900 °C
-20 – 1500 °C
精度 Accuracy ±2 °C 或 ±2%
以較大者為準
±2 °C 或 ±2%
以較大者為準
±2 °C 或 ±2%
以較大者為準
±2 °C 或 ±2%
以較大者為準
±2 °C 或 ±2%
以較大者為準
熱靈敏度 NETD
最小可偵測光斑尺寸(IFOV):1 像素
Smallest detectable Spot Size IFOV: 1 pixel
1.2 mm 0.2 mm 0.7 mm 0.4 mm 0.3 mm
最小可測量光斑尺寸 Smallest measurable Spot Size MFOV 3.6 mm 0.6 mm 2.1 mm 1.2 mm 0.9 mm
測量視場 MFOV Measurement Field of View 3x3 像素 3x3 像素 3x3 像素 3x3 像素 3x3 像素
熱機時間 Warm-up time 10 min 10 min 10 min 10 min 10 min
發射率/透射率/反射率 Emissivity /Transmissivity/ Reflectivity 可調整範圍 :
0.100 ~ 1.100
可調整範圍 :
0.100 ~ 1.100
可調整範圍 :
0.100 ~ 1.100
可調整範圍 :
0.100 ~ 1.100
可調整範圍 :
0.100 ~ 1.100

Optris Long Wavelength IR Cameras 長波紅外線熱像儀系列成員

Optris PI 640i LT - 高精度高解析度VGA紅外線熱像儀
PI 400i LT
Optris PI 640i LT - 高精度高解析度VGA紅外線熱像儀
PI 450i LT
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