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產品分類: edevis

產品分類: edevis

主動式熱像技術與可調整的雷射激發 – LTvis

LTvis 是 edevis 針對使用雷射熱像技術進行非破壞性材料檢測的模組化測試概念。透過選擇適當的雷射源—二極體或光纖—檢測可精確地適應材料、幾何形狀和缺陷類型。從全面檢測到高解析度偵測最微小的缺陷,LTvis 提供最大的靈活性和精確度。

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用於高效創建自有應用程式的程式設計介面 – DisplayImg API/Core Bundle

DisplayImg API 是一個軟體庫,旨在支援開發人員開發其個別的主動熱像應用程式。它支援市面上大多數的紅外線熱像儀,以及所有 edevis 主動熱像測量模組、加熱源和訊號產生器。
不同的熱像儀介面可用於數據採集,同時測量模組支援脈衝和鎖相技術,並支援多種激發源。
作為原生 64 位元應用程式的實施,允許在沒有記憶體限制的情況下採集長紅外線圖像序列。
.執行 NUC (非均勻性校正 – 1 點或 2 點

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