
用於裂紋檢測的超音波加熱熱像技術 – UTvis
UTvis 是 edevis 的測試模組,用於以超音波為加熱源的主動式熱像技術,實現對裂紋和介面缺陷的非破壞性檢測。此方法對於金屬和纖維強化材料特別有效,並可整合至實驗室和生產環境中。
UTvis 是 edevis 的測試模組,用於以超音波為加熱源的主動式熱像技術,實現對裂紋和介面缺陷的非破壞性檢測。此方法對於金屬和纖維強化材料特別有效,並可整合至實驗室和生產環境中。
LTvis 是 edevis 針對使用雷射熱像技術進行非破壞性材料檢測的模組化測試概念。透過選擇適當的雷射源—二極體或光纖—檢測可精確地適應材料、幾何形狀和缺陷類型。從全面檢測到高解析度偵測最微小的缺陷,LTvis 提供最大的靈活性和精確度。
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